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          準確成像,無交叉耦合現象 業界L先的XYZ軸線性度,樣品和探針分別由獨立的柔性制導掃描器控制移動 Z低的平面偏移度,全程水平掃描時平面偏移量不超過1納米 垂直掃描器全程伸縮時,線性度優于0.015% 優化的水平掃描器ringing現象,科學的正向sine-scan算法 原子力顯微鏡

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        • Park  NX12原子力顯微鏡 Park NX12原子力顯微鏡
          -原子力顯微鏡(AFM)有納米級分辨率成像以及電,磁,熱和機器性能測量的能力。 -納米管掃描系統可用于高分辨率掃描離子電導顯微鏡(SICM)。 -倒置光學顯微鏡(IOM)便于透明材料研究和熒光顯微鏡一體化。

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        • Park   XE7原子力顯微鏡 Park XE7原子力顯微鏡
          在同級產品中,ParkXE7能夠帶來Z高納米級分辨率的測量效果。得益于獨特的原子力顯微鏡架構,即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所獨有的TrueNon-Contact™模式還能為您帶來*的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

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